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上海计量测试所两项科研成果获中国计量测试学会科学技术进步奖

更新时间:2018-06-01      点击次数:2781

 【仪表网 仪表研发】2018年5月20日,由国家市场监督管理总局、中国科学技术协会、青年团中央共同举办的2018年“世界计量日”主题活动在北京举行。活动现场对获得2017年度中国计量测试学会科学技术进步奖的项目进行了表彰,上海计量院两项科研成果获奖。
 
     
 
 《新型电磁材料关键参数测量机理与应用研究》项目获得应用技术类三等奖。项目对新型电磁材料的介电常数、磁导率、损耗角正切、电磁屏蔽等关键参数的测量机理进行研究,建立了新型电磁材料关键参数测量装置2套,实现了同轴和波导在30MHz~50GHz频率范围下对介质材料关键参数的测量,在国内实现材料屏蔽效能测试频率上限由1.5GHz提高到8GHz,同时将项目主要技术内容积极转换成*标准,提升了我国在材料领域的影响力。
 
 《微振幅低频振动发生和测量装置的建立与应用》项目获得应用技术类三等奖。项目研制了微幅低频振动发生和测量装置,解决了微纳米动态测试中对微幅低频振动的测量和校准问题,实现了微弱振动的准确测量,在微尺度振动标准装置与溯源性研究等方面的技术达到国内水平,同时为精密位移技术研究与应用相关企业、科研院提供技术支撑,为低频小振动测量和验证提供技术保障。
 
  本次获奖的科研成果将提升上海计量院在新材料和先进制造等领域的计量校准服务能力,为上海计量院更好地融入张江综合性国家科学中心建设,保障上海乃至华东地区新材料和先进制造业的健康发展贡献力量。

(本文来源:上海市计量测试技术研究院,转载请注明出处)


 

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